高頻特性測量系統Micro Prober MP Series
高精度全自動測定高速傳輸基板頻率特性的行業頂尖裝置
一種自動測量裸基板頻率特性的裝置。同時兼具較高的接觸精度和重復穩定性。
由于搭載矢量網絡分析儀可以高速測量多塊單片基板,因此最適合用于承擔5G社會的基板的全數檢查和評價、分析工作。
由于搭載矢量網絡分析儀可以高速測量多塊單片基板,因此最適合用于承擔5G社會的基板的全數檢查和評價、分析工作。
Micro Prober MP Series的特點
高頻特性的全數測量
通過自動化實現了以往較為困難的高頻特性的全數測量。![[Image]高頻特性的全數測量 Before](./file/643/mp_micro_prober_feature_img01-1.jpg)
![[Image]高頻特性的全數測量 After](./file/645/mp_micro_prober_feature_img01-2.jpg)
卓越的重復穩定性和再現性
在基板發生翹曲和變形時也能保持恒定的探頭接觸條件,因此可實現卓越的測量重復穩定性和再現性。能夠明確判斷個片之間細微的特性差異。![[Image]卓越的重復穩定性和再現性 Before](./file/659/mp_micro_prober_feature_img02-1.jpg)
![[Image]卓越的重復穩定性和再現性 After](./file/660/mp_micro_prober_feature_img02-2.jpg)
高吞吐量
通過結合多端口VNA可實現量產。實現多個片及多軌跡的批量測量。![[Image]高吞吐量](./file/641/mp_micro_prober_feature_img03.jpg)
品質可視化與100%產品保修
由于可對基板上的實際電路進行全數測量,因此可以對前一工序品質進行反饋,或對后一工序品質進行保證。![[Image]品質可視化與100%產品保修 Before](./file/650/mp_micro_prober_feature_img04-1.jpg)
![[Image]品質可視化與100%產品保修 After](./file/652/mp_micro_prober_feature_img04-2.jpg)
多種測量項目
通過組裝市售的VNA,實現滿足不同用途的多種測量。(VNA=矢量網絡分析儀)![[Image]多種測量項目](./file/647/mp_micro_prober_feature_img05.jpg)
雙面測試
通過獨立的上下探測測試頭可同時應對雙面擁有探測點的基板。![[Image]雙面測試](./file/651/mp_micro_prober_feature_img06.jpg)
操作簡單
簡單的治具更換系統、探測位置自動調整,無需特殊技能亦可進行操作。![[Image]操作簡單](./file/648/mp_micro_prober_feature_img07.jpg)
100%可追溯性
使各個片的測量結果與基板上的2D條形碼聯動進行自動保存。![[Image]100%可追溯性](./file/646/mp_micro_prober_feature_img08.jpg)
上下料全自動化*1
全自動基板上下料系統,有助于減少人力、保持品質穩定。*1 Option
![[Image]上下料全自動化](./file/649/mp_micro_prober_feature_img09.jpg)
對象工件
![[Image]剛性基板](./file/461/work_rigid_img.jpg)
剛性基板
![[Image]柔性基板](./file/451/work_flexible_img.jpg)
柔性基板
![[Image]剛柔性基板](./file/453/work_rigidflex_img.jpg)
剛柔性基板